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CST-50冲击试样缺口投影仪

CST-50冲击试样缺口投影仪

  • 主机用途
  • 性能特点
  • 技术参数

CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器,与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,对比直观,操作简单,效率高。是理化试验室的必备专用设备。

影屏: 200×200mm

放大倍数: 50X

光源: 12V 100W(卤钨灯)

电源: 220V 50Hz 150W

外型尺寸: 515×224×603mm

重量: 约18Kg